Chroma 3110 雙用單站測試分類機

3110 不 但適用于系統功能檢測，也同時具備終端電性測 試的能力。可綜合各元件的整體效能并執行測試 系統上的所有測試程式，旨在提供一個全能的解 決方案。

支援的晶片尺寸從 3x3mm 到 55x55mm，配備有 自動進出料分類艙及手動分類盤，可優化工程 測試的實驗數量。簡易操作的操控畫面，及適配 性高的testers連接介面，大幅提升機臺的使用率 及共用性。除此之外，它能針對不同的測試環境 條件，提供數個溫控系統的選擇，如三溫控制系 統、高功率冷卻系統等，測試的環境溫度可設置 于常溫、高溫或低溫。

Chroma 3110 雙用單站測試分類機的特色：

• 雙用單站測試分類機
• 適用於終端測試或系統功能測試
• 自動進料出料艙的配置及依測試結果自動分類的功能
• 測頭內建氣室，可吸收及減緩下壓觸力的衝擊
• 智能型的載盤IC殘留偵測
• 可選配的三溫控制系統 (Standard: -40℃ ~ 135℃, Option: -55℃ ~ 150℃) 
• 可選配的高功率冷卻系統
• 理想的產品工程或研發實驗設備機，可自動蒐集與分析測試、實驗結果的數據